光が多いときは、にてはきまるので、他のノイズは無視できます。このような条件下では、安い検出器でも十分よいＳ／Ｎで計測が可能となります。

ＥＢＩノイズは、イメージインテンシファイアの光電面から発生するノイズです。主に熱雑音です。

光がまったく当たっていない状態で、光電面で自然に発生するホトエレクトロンによって発生するノイズです。ＥＢＩ信号は、１秒間に数エレクトロン発生します。ＭＣＰのゲインが最大のときは、１Ｐｅ＝８０カウントの増幅がされるので、１秒間に数百カウントのノイズになってしまいます。

ただし、ゲート動作をさせると、ゲート時間だけにＥＢＩ信号は発生するので、ほとんど、無視されるようなノイズ量になります。

仮にゲート時間が１００ｎｓｅｃで、１０Ｈｚのレーザを使ったと仮定してみると、１００ｎｓｅｃ×１０＝１μｓｅｃしか、１秒間にホトカソードは露光していないので、ＥＢＩ信号は、数百カウント×１μｓｅｃで、無視できます。

ＥＢＩノイズを考慮しなければいけないような実験条件は、ＣＷ（連続光）での実験で、露光時間を長くした場合に限ります。その場合は、ホトカソード冷却などのオプションが有用になります。