周波数ドメイン蛍光寿命測定（FLIM）
イメージインテンシファイアのゲインを高速で変調させ、蛍光との位相のズレから計算して蛍光寿命を求める手法です、ゲートを用いる方法より高精度の時間分解測定が可能です。小エネルギーでのCWレーザーを用いることにより、サンプルへのダメージが少なくてすみます。
条件としてMHz以上の繰り返しで発振するレーザーが必要になります。(RF:Radio Frequency 高周波の事）
正立顕微鏡を用いた場合の顕微分光システム例
DAPIの蛍光寿命
＜システム構成＞
検出器 PI-MAX:RF
励起光源：ﾚｰｻﾞｰ 周波数変調器付
制御系：PC ソフトウエア
光学系：顕微鏡（正立、倒立） |
